PayPal-donate (Wiki).png
O ile nie zaznaczono inaczej, prawa autorskie zamieszczonych materiałów należą do Jana Woreczko & Wadi.

(Unless otherwise stated, the copyright of the materials included belong to Jan Woreczko & Wadi.)


Szablon:!SEM

Z Wiki.Meteoritica.pl

(Różnice między wersjami)
(Utworzył nową stronę „<noinclude>{{VerifyLevel|level=1}}</noinclude><ref name="SEM">'''SEM-EDS''' (ang. '''''Scanning Electron Microscopy''''', '''''Energy Dispersive Spectroscopy''''') – ...”)
 
(Nie pokazano 1 wersji pomiędzy niniejszymi.)
Linia 1: Linia 1:
-
<noinclude>{{VerifyLevel|level=1}}</noinclude><ref name="SEM">'''SEM-EDS''' (ang. '''''Scanning Electron Microscopy''''', '''''Energy Dispersive Spectroscopy''''') – połączenie skaningowej mikroskopii elektronowej ('''SEM''') z spektroskopią rentgenowską z dyspersją energii ('''EDS/EDX'''), umożliwiające jednoczesną obserwację mikrostruktury próbki i analizę jej składu chemicznego. Wiązka elektronów w mikroskopie SEM skanuje powierzchnię próbki, tworząc obraz o bardzo dużym powiększeniu; oddziaływanie elektronów z atomami próbki powoduje emisję charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego; detektor EDS mierzy energie tego promieniowania, co pozwala zidentyfikować obecne pierwiastki i oszacować ich zawartość. Więcej → [http://www.woreczko.pl/meteorites/features/glossary-MicroProbeWG.htm Mikrosonda (''Microprobe'')]. Wikipedia – [https://pl.wikipedia.org/wiki/Skaningowy_mikroskop_elektronowy Skaningowy mikroskop elektronowy] {{SeparatorBull}} [https://en.wikipedia.org/wiki/Energy-dispersive_X-ray_spectroscopy Energy-dispersive X-ray spectroscopy]</ref><noinclude>
+
<noinclude>{{VerifyLevel|level=1}}</noinclude><ref name="SEM">'''SEM-EDS''' (ang. '''''Scanning Electron Microscopy''''', '''''Energy Dispersive Spectroscopy''''') – połączenie skaningowej mikroskopii elektronowej ('''SEM''') z&nbsp;spektroskopią rentgenowską z&nbsp;dyspersją energii ('''EDS/EDX'''), umożliwiające jednoczesną obserwację mikrostruktury próbki i&nbsp;analizę jej składu chemicznego. Wiązka elektronów w&nbsp;mikroskopie SEM skanuje powierzchnię próbki, tworząc obraz o&nbsp;bardzo dużym powiększeniu; oddziaływanie elektronów z&nbsp;atomami próbki powoduje emisję charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego; detektor EDS mierzy energie tego promieniowania, co pozwala zidentyfikować obecne pierwiastki i&nbsp;oszacować ich zawartość. Wikipedia – [https://pl.wikipedia.org/wiki/Skaningowy_mikroskop_elektronowy Skaningowy mikroskop elektronowy] {{SeparatorBull}} [https://en.wikipedia.org/wiki/Energy-dispersive_X-ray_spectroscopy Energy-dispersive X-ray spectroscopy]<br />'''SEM-BSE''' (ang. '''''Scanning Electron Microscopy''''', '''''Backscattered Electrons''''') – technika obrazowania w&nbsp;skaningowym mikroskopie elektronowym wykorzystująca elektrony wstecznie rozproszone ('''BSE'''). Wiązka elektronów pada na próbkę, a&nbsp;część elektronów zostaje odbita (rozproszona wstecznie) przez jądra atomowe materiału; liczba elektronów BSE zależy głównie od liczby atomowej (Z) pierwiastków obecnych w&nbsp;próbce: pierwiastki cięższe (wyższe&nbsp;Z) dają silniejszy sygnał i&nbsp;są widoczne jako jaśniejsze obszary, pierwiastki lżejsze (niższe&nbsp;Z) dają słabszy sygnał i&nbsp;są widoczne jako ciemniejsze obszary. Co&nbsp;widać?: kontrast składowy (różnice w&nbsp;składzie chemicznym faz), identyfikację różnych faz materiału, obserwację rozmieszczenia minerałów, wtrąceń i&nbsp;zanieczyszczeń, informacje o&nbsp;mikrostrukturze próbki. Zalety: szybkie rozróżnianie obszarów o&nbsp;różnym składzie chemicznym, dobra współpraca z&nbsp;analizą EDS, szczególnie przydatna do badania materiałów wielofazowych. Wikipedia (EN) – [https://en.wikipedia.org/wiki/Scanning_electron_microscope#Detection_of_backscattered_electrons Scanning electron microscope]. Więcej → [http://www.woreczko.pl/meteorites/features/glossary-MicroProbeWG.htm Mikrosonda (''Microprobe'')]</ref><noinclude>
{{Przypisy|ncol=1}}
{{Przypisy|ncol=1}}
[[Category:Szablony Wiki|{{PAGENAME}}]]
[[Category:Szablony Wiki|{{PAGENAME}}]]
</noinclude>
</noinclude>

Aktualna wersja na dzień 18:22, 8 cze 2026

1
[1]

Przypisy

  1. ^ SEM-EDS (ang. Scanning Electron Microscopy, Energy Dispersive Spectroscopy) – połączenie skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM) z spektroskopią rentgenowską z dyspersją energii (EDS/EDX), umożliwiające jednoczesną obserwację mikrostruktury próbki i analizę jej składu chemicznego. Wiązka elektronów w mikroskopie SEM skanuje powierzchnię próbki, tworząc obraz o bardzo dużym powiększeniu; oddziaływanie elektronów z atomami próbki powoduje emisję charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego; detektor EDS mierzy energie tego promieniowania, co pozwala zidentyfikować obecne pierwiastki i oszacować ich zawartość. Wikipedia – Skaningowy mikroskop elektronowy  ●  Energy-dispersive X-ray spectroscopy
    SEM-BSE (ang. Scanning Electron Microscopy, Backscattered Electrons) – technika obrazowania w skaningowym mikroskopie elektronowym wykorzystująca elektrony wstecznie rozproszone (BSE). Wiązka elektronów pada na próbkę, a część elektronów zostaje odbita (rozproszona wstecznie) przez jądra atomowe materiału; liczba elektronów BSE zależy głównie od liczby atomowej (Z) pierwiastków obecnych w próbce: pierwiastki cięższe (wyższe Z) dają silniejszy sygnał i są widoczne jako jaśniejsze obszary, pierwiastki lżejsze (niższe Z) dają słabszy sygnał i są widoczne jako ciemniejsze obszary. Co widać?: kontrast składowy (różnice w składzie chemicznym faz), identyfikację różnych faz materiału, obserwację rozmieszczenia minerałów, wtrąceń i zanieczyszczeń, informacje o mikrostrukturze próbki. Zalety: szybkie rozróżnianie obszarów o różnym składzie chemicznym, dobra współpraca z analizą EDS, szczególnie przydatna do badania materiałów wielofazowych. Wikipedia (EN) – Scanning electron microscope. Więcej → Mikrosonda (Microprobe)
Osobiste