(Unless otherwise stated, the copyright of the materials included belong to Jan Woreczko & Wadi.)
Szablon:!SEM
Z Wiki.Meteoritica.pl
(Różnice między wersjami)
m |
|||
| Linia 1: | Linia 1: | ||
| - | <noinclude>{{VerifyLevel|level=1}}</noinclude><ref name="SEM">'''SEM-EDS''' (ang. '''''Scanning Electron Microscopy''''', '''''Energy Dispersive Spectroscopy''''') – połączenie skaningowej mikroskopii elektronowej ('''SEM''') z spektroskopią rentgenowską z dyspersją energii ('''EDS/EDX'''), umożliwiające jednoczesną obserwację mikrostruktury próbki i analizę jej składu chemicznego. Wiązka elektronów w mikroskopie SEM skanuje powierzchnię próbki, tworząc obraz o bardzo dużym powiększeniu; oddziaływanie elektronów z atomami próbki powoduje emisję charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego; detektor EDS mierzy energie tego promieniowania, co pozwala zidentyfikować obecne pierwiastki i oszacować ich zawartość | + | <noinclude>{{VerifyLevel|level=1}}</noinclude><ref name="SEM">'''SEM-EDS''' (ang. '''''Scanning Electron Microscopy''''', '''''Energy Dispersive Spectroscopy''''') – połączenie skaningowej mikroskopii elektronowej ('''SEM''') z spektroskopią rentgenowską z dyspersją energii ('''EDS/EDX'''), umożliwiające jednoczesną obserwację mikrostruktury próbki i analizę jej składu chemicznego. Wiązka elektronów w mikroskopie SEM skanuje powierzchnię próbki, tworząc obraz o bardzo dużym powiększeniu; oddziaływanie elektronów z atomami próbki powoduje emisję charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego; detektor EDS mierzy energie tego promieniowania, co pozwala zidentyfikować obecne pierwiastki i oszacować ich zawartość. Wikipedia – [https://pl.wikipedia.org/wiki/Skaningowy_mikroskop_elektronowy Skaningowy mikroskop elektronowy] {{SeparatorBull}} [https://en.wikipedia.org/wiki/Energy-dispersive_X-ray_spectroscopy Energy-dispersive X-ray spectroscopy]<br />'''SEM-BSE''' (ang. '''''Scanning Electron Microscopy''''', '''''Backscattered Electrons''''') – technika obrazowania w skaningowym mikroskopie elektronowym wykorzystująca elektrony wstecznie rozproszone ('''BSE'''). Wiązka elektronów pada na próbkę, a część elektronów zostaje odbita (rozproszona wstecznie) przez jądra atomowe materiału; liczba elektronów BSE zależy głównie od liczby atomowej (Z) pierwiastków obecnych w próbce: pierwiastki cięższe (wyższe Z) dają silniejszy sygnał i są widoczne jako jaśniejsze obszary, pierwiastki lżejsze (niższe Z) dają słabszy sygnał i są widoczne jako ciemniejsze obszary. Co widać?: kontrast składowy (różnice w składzie chemicznym faz), identyfikację różnych faz materiału, obserwację rozmieszczenia minerałów, wtrąceń i zanieczyszczeń, informacje o mikrostrukturze próbki. Zalety: szybkie rozróżnianie obszarów o różnym składzie chemicznym, dobra współpraca z analizą EDS, szczególnie przydatna do badania materiałów wielofazowych. Wikipedia (EN) – [https://en.wikipedia.org/wiki/Scanning_electron_microscope#Detection_of_backscattered_electrons Scanning electron microscope]. Więcej → [http://www.woreczko.pl/meteorites/features/glossary-MicroProbeWG.htm Mikrosonda (''Microprobe'')]</ref><noinclude> |
{{Przypisy|ncol=1}} | {{Przypisy|ncol=1}} | ||
[[Category:Szablony Wiki|{{PAGENAME}}]] | [[Category:Szablony Wiki|{{PAGENAME}}]] | ||
</noinclude> | </noinclude> | ||
Aktualna wersja na dzień 18:22, 8 cze 2026
1
[1]
