PayPal-donate (Wiki).png
O ile nie zaznaczono inaczej, prawa autorskie zamieszczonych materiałów należą do Jana Woreczko & Wadi.

(Unless otherwise stated, the copyright of the materials included belong to Jan Woreczko & Wadi.)


Szablon:!XRF

Z Wiki.Meteoritica.pl

(Różnice między wersjami)
(Utworzył nową stronę „<noinclude>{{VerifyLevel|level=1}}</noinclude><ref name="XRF">'''spektrometria fluorescencji rentgenowskiej''' ('''XRF''', ang. '''''X-ray Fluorescence Spectroscopy''''...”)
m
 
Linia 1: Linia 1:
-
<noinclude>{{VerifyLevel|level=1}}</noinclude><ref name="XRF">'''spektrometria fluorescencji rentgenowskiej''' ('''XRF''', ang. '''''X-ray Fluorescence Spectroscopy''''') – metoda analizy składu pierwiastkowego materiałów wykorzystująca promieniowanie rentgenowskie. Próbka jest naświetlana promieniowaniem rentgenowskim, które wybija elektrony z wewnętrznych powłok atomów; powstałe luki są wypełniane przez elektrony z&nbsp;wyższych poziomów energetycznych, czemu towarzyszy emisja charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego (fluorescencji); energia tego promieniowania pozwala zidentyfikować pierwiastki, a&nbsp;jego intensywność określić ich ilość. Co można badać?: skład pierwiastkowy próbki, zawartość pierwiastków głównych, domieszek i&nbsp;pierwiastków śladowych, rozkład pierwiastków (w&nbsp;przypadku mapowania XRF). Zalety: metoda szybka i&nbsp;nieniszcząca, niewielkie wymagania dotyczące przygotowania próbki, możliwość analizy ciał stałych, proszków i&nbsp;cieczy, jednoczesne oznaczanie wielu pierwiastków. Wikipedia (EN) – [https://en.wikipedia.org/wiki/X-ray_fluorescence X-ray fluorescence]</ref><noinclude>
+
<noinclude>{{VerifyLevel|level=1}}</noinclude><ref name="XRF">'''fluorescencyjna analiza rentgenowska''' ('''XRF''', ang. '''''X-ray Fluorescence''''') – metoda analizy składu pierwiastkowego materiałów wykorzystująca promieniowanie rentgenowskie. Próbka jest naświetlana promieniowaniem rentgenowskim, które wybija elektrony z wewnętrznych powłok atomów; powstałe luki są wypełniane przez elektrony z&nbsp;wyższych poziomów energetycznych, czemu towarzyszy emisja charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego (fluorescencji); energia tego promieniowania pozwala zidentyfikować pierwiastki, a&nbsp;jego intensywność określić ich ilość. Co można badać?: skład pierwiastkowy próbki, zawartość pierwiastków głównych, domieszek i&nbsp;pierwiastków śladowych, rozkład pierwiastków (w&nbsp;przypadku mapowania XRF). Zalety: metoda szybka i&nbsp;nieniszcząca, niewielkie wymagania dotyczące przygotowania próbki, możliwość analizy ciał stałych, proszków i&nbsp;cieczy, jednoczesne oznaczanie wielu pierwiastków. Wikipedia (EN) – [https://en.wikipedia.org/wiki/X-ray_fluorescence X-ray fluorescence]</ref><noinclude>
{{Przypisy|ncol=1}}
{{Przypisy|ncol=1}}
[[Category:Szablony Wiki|{{PAGENAME}}]]
[[Category:Szablony Wiki|{{PAGENAME}}]]
</noinclude>
</noinclude>

Aktualna wersja na dzień 20:20, 8 cze 2026

1
[1]

Przypisy

  1. ^ fluorescencyjna analiza rentgenowska (XRF, ang. X-ray Fluorescence) – metoda analizy składu pierwiastkowego materiałów wykorzystująca promieniowanie rentgenowskie. Próbka jest naświetlana promieniowaniem rentgenowskim, które wybija elektrony z wewnętrznych powłok atomów; powstałe luki są wypełniane przez elektrony z wyższych poziomów energetycznych, czemu towarzyszy emisja charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego (fluorescencji); energia tego promieniowania pozwala zidentyfikować pierwiastki, a jego intensywność określić ich ilość. Co można badać?: skład pierwiastkowy próbki, zawartość pierwiastków głównych, domieszek i pierwiastków śladowych, rozkład pierwiastków (w przypadku mapowania XRF). Zalety: metoda szybka i nieniszcząca, niewielkie wymagania dotyczące przygotowania próbki, możliwość analizy ciał stałych, proszków i cieczy, jednoczesne oznaczanie wielu pierwiastków. Wikipedia (EN) – X-ray fluorescence
Osobiste