Szablon:!SEM
Z Wiki.Meteoritica.pl
1
[1]
Przypisy
- ^ SEM-EDS (ang. Scanning Electron Microscopy, Energy Dispersive Spectroscopy) – połączenie skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM) z spektroskopią rentgenowską z dyspersją energii (EDS/EDX), umożliwiające jednoczesną obserwację mikrostruktury próbki i analizę jej składu chemicznego. Wiązka elektronów w mikroskopie SEM skanuje powierzchnię próbki, tworząc obraz o bardzo dużym powiększeniu; oddziaływanie elektronów z atomami próbki powoduje emisję charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego; detektor EDS mierzy energie tego promieniowania, co pozwala zidentyfikować obecne pierwiastki i oszacować ich zawartość. Wikipedia – Skaningowy mikroskop elektronowy ● Energy-dispersive X-ray spectroscopy
SEM-BSE (ang. Scanning Electron Microscopy, Backscattered Electrons) – technika obrazowania w skaningowym mikroskopie elektronowym wykorzystująca elektrony wstecznie rozproszone (BSE). Wiązka elektronów pada na próbkę, a część elektronów zostaje odbita (rozproszona wstecznie) przez jądra atomowe materiału; liczba elektronów BSE zależy głównie od liczby atomowej (Z) pierwiastków obecnych w próbce: pierwiastki cięższe (wyższe Z) dają silniejszy sygnał i są widoczne jako jaśniejsze obszary, pierwiastki lżejsze (niższe Z) dają słabszy sygnał i są widoczne jako ciemniejsze obszary. Co widać?: kontrast składowy (różnice w składzie chemicznym faz), identyfikację różnych faz materiału, obserwację rozmieszczenia minerałów, wtrąceń i zanieczyszczeń, informacje o mikrostrukturze próbki. Zalety: szybkie rozróżnianie obszarów o różnym składzie chemicznym, dobra współpraca z analizą EDS, szczególnie przydatna do badania materiałów wielofazowych. Wikipedia (EN) – Scanning electron microscope. Więcej → Mikrosonda (Microprobe)
