Szablon:!XRF

1

^[1]

Przypisy

^ fluorescencyjna analiza rentgenowska (XRF, ang. X-ray Fluorescence) – metoda analizy składu pierwiastkowego materiałów wykorzystująca promieniowanie rentgenowskie. Próbka jest naświetlana promieniowaniem rentgenowskim, które wybija elektrony z wewnętrznych powłok atomów; powstałe luki są wypełniane przez elektrony z wyższych poziomów energetycznych, czemu towarzyszy emisja charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego (fluorescencji); energia tego promieniowania pozwala zidentyfikować pierwiastki, a jego intensywność określić ich ilość. Co można badać?: skład pierwiastkowy próbki, zawartość pierwiastków głównych, domieszek i pierwiastków śladowych, rozkład pierwiastków (w przypadku mapowania XRF). Zalety: metoda szybka i nieniszcząca, niewielkie wymagania dotyczące przygotowania próbki, możliwość analizy ciał stałych, proszków i cieczy, jednoczesne oznaczanie wielu pierwiastków. Wikipedia (EN) – X-ray fluorescence